Рівність оцінок МНК та Ейткена параметра лінійної моделі регресії, коли коваріаційна матриця відхилень є симетричною матрицею Тепліца загального вигляду

  • Marta Savkina к. ф.-м. н., Інститут математики НАН України, вул. Терещенківська, 3, 01024, Київ-4
Ключові слова: регресійна модель; метод найменших квадратів; оцінка Ейткена

Анотація

В роботі вивчається регресійна модель, функція якої має вигляд f(x)=ax+b, де та b невідомі параметри, а коваріаційна матриця відхилень є симетричною матрицею Тепліца загального вигляду. Наближені значення (спостереження) функції f(x) реєструються у рівновіддалених точках відрізку [0;1].  В роботі наведено теорему, яка дає необхідну і достатню умову на елементи коваріаційної матриці відхилень зазначеного вигляду для збігу оцінки МНК та оцінки Ейткена параметра a такої моделі.

Посилання

Demydenko E.Z. Lyneinaia y nelyneinaia rehressyy. — Moskva: Fynansy i statystyka, 1981. – 304 s.

Savkina M.Iu. Umovy zbihu otsinok MNK ta Eitkena parametriv modeli liniinoi rehresii // Zhurnal obchysliuvalnoi ta prykladnoi matematyky. — 2018. — № 3(129). -- S.36-44.

Savkina M.Iu. Rivnist otsinok MNK ta Eitkena starshoho koefitsiientu liniinoi modeli rehresii u vypadku korelovanykh vidkhylen // Zhurnal obchysliuvalnoi ta prykladnoi matematyky. — 2021. — № 2(136). -- S.64-71.

Savkina M.Iu. Neobkhidna umova zbihu otsinok MNK ta Eitkena starshoho koefitsiientu liniinoi modeli rehresii u vypadku korelovanykh vidkhylen // Zhurnal obchysliuvalnoi ta prykladnoi matematyky. — 2022. — № 2. — S.116-125.

Опубліковано
2023-06-28
Як цитувати
Savkina, M. (2023). Рівність оцінок МНК та Ейткена параметра лінійної моделі регресії, коли коваріаційна матриця відхилень є симетричною матрицею Тепліца загального вигляду. ФІЗИКО-МАТЕМАТИЧНЕ МОДЕЛЮВАННЯ ТА ІНФОРМАЦІЙНІ ТЕХНОЛОГІЇ, (37), 103-107. https://doi.org/10.15407/10.15407/fmmit2023.37.103